Нерезкости изображения

Нерезкость изображения U

Общая нерезкость изображения и (мм) характеризуется размытием краев изображения на снимке. Величина нерезкости при просвечивании зависит от следующих ее составляющих.

Общая нерезкость изображения зависит от характера распределения геометрической нерезкости, связанной с формой дефекта или элемента эталона чувствительности.

Геометрическую нерезкость «г определяют из условия иг ^ ив при просвечивании тонкостенных изделий; «г < UP при просвечивании изделий большой толщины, когда рассеянное излучение существенным образом ухудшает выявляемость. В этом случае общая нерезкость изображения при

мого источника нейтронов выход и формирование пучка нейтронов осуществляются с помощью различных коллиматоров. Такие коллиматоры обычно снабжены устройствами, позволяющими изменять основные характеристики пучка (угловую расходи» мость, уровень фонового излучения, энергетический спектр нейтронов и т. д.). Угловая расходимость пучка нейтронов определяет геометрическую нерезкость изображения. При этом улучшение коллимации .всегда связано с уменьшением потока нейтронов. Подготовка изделий для контроля методом нейтронной радиографии аналогична подготовке объектов при контроле методом рентгене- или гамма-графин. Однако следует обращать особое внимание на удаление с поверхностей просвечиваемого объекта следов влаги, смазки и других материалов, имеющих большие сечения взаимодей*

Данная зависимость косвенно учитывает влияние энергии ионизирующего излучения через общую нерезкость изображения и.

источник — объект—детектор, определяется величиной предельной пространственной частоты, воспроизводимой радиографической системой, и является функцией ЧКХ и нерезкости изображения, 'которая в свою очередь зависит от внутренней (собственной) нерезкости пленки ив. Размытие изображения характеризуется функцией рассеяния линии и определяется процессами поглощения и рассеяния ионизирующего излучения в эмульсионных слоях пленки. Нерезкость изображения является показателем экспоненты, входящей в функцию рассеяния линии. Обычно ив определяют по методике, разработанной Клазенсом путем фото-метрирования изображения края лезвия. При этом энергия излучения и контраст изображения являются теми параметрами, которые влияют на величину «в.

Четкость снимка — нерезкость изображения определяется воздействием геометрической нерезкости, возникающей из-за неточечности источников излучения, фокусного расстояния (расстояния от источника излучения до изделия), расстояния пленки от изделия, расположения дефекта в изделии, внутренней нерезкости детекторов (пленок, экранов), зернистости изображения, зависящих от свойств детекторов и фотообработки.

Фокусное расстояние F (от ИИ до контролируемого изделия) выбирают с учетом его влияния на чувствительность и производительность контроля. Производительность контроля определяется временем, затраченным на просвечивание, которое в свою очередь пропорционально квадрату фокусного расстояния. Фокусное расстояние принимают таким, чтобы геометрическая нерезкость изображения дефектов на снимке не превышала половины значения чувствительности контроля в миллиметрах, а относительное увеличение размеров дефектов, расположенных со стороны источника излучения по отношению к дефектам, расположенным со стороны, пленки, не превышало 25%.

Нерезкость изображения U

Нерезкость изображения U (мм) характеризуется размытием краев изображения на снимке или экране. Величина нерезкости при просвечивании изделий определяется воздействием следующих факторов: геометрической нерезкостью Uг, возникающей из-за неточечности применяемого источника излучения; внутренней нерезкостью детекторов UB, опре-I/P, вызываемой рассеянием ионизирующего излучения не деляемой рассеянием ионизирующего излучения в материале детектора и зависящей от его энергии; нерезкостью рассеяния только в материале детектора, но и в самом контролируемом изделии; нерезкостью смещения С/с, вызываемой взаимными перемещениями источника излучения, изделия и детектора во время просвечивания.

удельная активность источника, Которая определяет размеры активной части, а следовательно, геометрию, контроля, нерезкости изображения и выявляемость дефектов;

так и изделий типа полых тел вращения. Схемы, приведенные на рис. 15, рекомендованы ГОСТ 7512—82. Анализ приведенных на рис. 14 схем показывает, что только при кольцевом просвечивании фокусное расстояние и толщина стенки являются постоянными величинами, при всех остальных способах контроля их значения меняются от центра к краю контролируемого участка. Суммарное воздействие этих двух факторов оказывает существенное воздействие на получаемые 'результаты. В частности, радиографический снимок имеет, как правило, различные контрастности YB плотности почернения D, общие нерезкости изображения и и, как следствие, различные значения относительной чувствительности контроля WOTH по центру и краю снимка.

Чувствительность радиографии зависит как от энергии излучения Е (рис. 16—18), так и от контрастности снимка YD) общей нерезкости изображения и, воздействия рассеянного излучения, достигающего пленки и определяемого фактором накопления. Поэтому при просвечивании изделий по участкам, когда все перечисленные параметры меняются от центра к краю снимка, чувствительность контроля также изменяется. На рис. 19 приведены графики зависимости относительной чувствительности от угла ср при просвечивании плоских изделий различной толщины с использованием ка-навочных дефектометров. Фокусное расстояние выбирали из условия uf ^ sgj Up. Снимки расшифровывали на негатоскопе с яркостью экрана 30 кд/м2, при этом расстояние от глаза наблюдателя до экрана составляло 25 см. Из графиков следует, что с увеличением угла ф чувствительность контроля

рекомендуемым ГОСТ 7512—82. Во всех случаях необходимо устранять взаимные колебания и вибрации изделия, дефектоскопического оборудования и детекторов во избежание увеличения нерезкости изображения дефектов.

где q (и) характеризует уменьшение контраста в связи с влиянием нерезкости изображения. Это уравнение Справедливо при значениях м> Д6, при и ^ Д6 значения q (и) следует Принимать равными единице. : В том случае, когда локальная неоднородность располагается в объекте толщиной 6, прохождение сигнала сопровождается процессами ослабления и рассеяния ионизирующего излучения в материале, в связи с чем выходной сигнал S (v) изменяется пропорционально отношению логарифмов действующих и наложенных экспозиций: - • '

источник — объект—детектор, определяется величиной предельной пространственной частоты, воспроизводимой радиографической системой, и является функцией ЧКХ и нерезкости изображения, 'которая в свою очередь зависит от внутренней (собственной) нерезкости пленки ив. Размытие изображения характеризуется функцией рассеяния линии и определяется процессами поглощения и рассеяния ионизирующего излучения в эмульсионных слоях пленки. Нерезкость изображения является показателем экспоненты, входящей в функцию рассеяния линии. Обычно ив определяют по методике, разработанной Клазенсом путем фото-метрирования изображения края лезвия. При этом энергия излучения и контраст изображения являются теми параметрами, которые влияют на величину «в.

тельно, и геометрию контроля, нерезкости изображения и разрешающую способность метода; наличие радиоактивных примесей в источнике излучения — ухудшение выявляемости дефектов при использовании источников низкоэнергетического излучения; период полураспада Т>/, — периодичность замены источников, затраты на их приобретение и захоронение.

Энергия Е радиоизотопных источников излучения определяется свойствами используемого радиоактивного изотопа и сопутствующих примесей. МЭД излучения зависит от суммарной активности изотопа, расположенного в объеме активной части источника. Повышение МЭД возможно в результате соответствующего увеличения размеров активной части. Следует отметить, что в некоторых случаях это нежелательно, так как получаемый выигрыш в производительности контроля не компенсируется проигрышем в виде ухудшения выявлявмооти дефектов и увеличения нерезкости изображения. Кроме того, для низкоэнергетических источников (например, 170Тт) увеличение размеров активной части приводит к изменению энергетического спектра из-за самопоглощения его низкоэнергетических составляющих материалом активной части источника.

Относительная чувствительность радиографии зависит от контрастности снимка уо , общей нерезкости изображения U, количества рассеянного излучения, достигающего пленки. Поэтому при просвечивании изделий по участкам, когда все перечисленные параметры меняются от центра к краю снимка, чувствительность контроля также будет изменяться.

чаях, когда контролю подвергаются изделия с протяженными швами или со швами сложной конфигурации, они разбиваются на участки таким образом, чтобы схемы просвечивания со-, ответствовали рекомендуемым стандартом. Во всех случаях контроля необходимо устранять взаимные колебания и вибрации изделия, дефектоскопического оборудования и детекторов во избежание роста нерезкости изображения дефектов. Ширина контролируемой зоны сварного соединения должна включать ширину самого шва и околошовные зоны (табл. 24).

видимой канавки эталона; s — толщина контролируемого основного металла в месте установки эталона; Si — толщина эталона). Теневое изображение дефекта на радиографической пленке или экране будет тем лучше выявляться оператором, чем больше контрастность участков детектора, соответствующего изображению дефектного и бездефектного участков изделия. На радиографической пленке ее определяют как разность в плотности почернения пленки. Изображение дефекта, как правило, имеет размытые края. Это явление носит название нерезкости изображения и (рис. 81)