Микроскоп позволяет

Выделение вторичных кристаллов из эвтектических составляющих обычно не обнаруживается при микроскопическом исследовании, так как вторичные выделения объединяются с такой же (одноименной) фазой эвтектики.

вание магмы-плазмы (рис. 4.5), установленное при микроскопическом исследовании зоны контакта деталей.

Травитель 73 [75 мл HNCy, 25 мл HF]. Эта смесь, как указывает Сикес [58],"травит карбид вольфрама W2C'быстрее, чем'воль-фрам и карбид вольфрама WC/Однако реактив даже после'тща-тельнейшей промывки полностью не удаляется из пор на шлифе, поэтому имеется опасность повредить линзу объектива при микроскопическом исследовании из-за разъедания парами HF. По данным Грега и Кюттнера [59], смесь HF—HNOs'pacTBOpaeT W2C на холоду, WC — при нагреве.

Травитель 16 [0,1 г РеС13; 100 мл спирта]. Травитель 17 [11 г РеС13; 100 мл Н2О]. По данным Шуберта и Фрике [8], эти реактивы пригодны при микроскопическом исследовании сплавов олова с сурьмой. Оловянная фаза раствором 24 (гл. XVI) окрашивается в черный цвет, SnSb-фаза протравливается в различные тона с желтоватым оттенком, а Sb-фаза остается светлой.

Этим, а также более сильным раствором для травления удается достаточно удовлетворительно различать а- и р-фазы при визуальном (субъективном) микроскопическом исследовании. На фотографии эти фазы отличить друг от друга нельзя, они одинаково серые.

тере их поврежденности порами. Прямые участки длительно работающих паропроводов при эксплуатации в температурно-сило-вых условиях области б картограммы механизмов ползучести и при значениях температурно-временного параметра Ларсена— Мюллера Р = (20-^21) • 10^ находились на второй стадии ползучести и имели остаточную деформацию, не превышающую 0,6%. Поврежденность металла таких труб невысока и выявляется только при электронно-микроскопическом исследовании. Микропоры, концентрация которых не превышает 1 • 104 мм~2 в металле с феррито-карбидной и феррито-сорбитной структурой, располагаются преимущественно по границам зерен.

Металлографическим исследованием разрушенного диска установлено, что микроструктура диска представляет собой сорбит отпуска как игольчатой ориентации, так и бесструктурной, т.е. имеет структуру, обычную для исходного состояния диска. При электронно-микроскопическом исследовании выявлена начальная стадия процессов возврата и рекристаллизации с появлением зародышей рекристаллизации, образовавшихся в результате коалесценции субзерен внутри бейнитных пластин и миграции субграниц. Таким образом, наблюдение структуры стали в просвечивающий электронный микроскоп показывает, что в металле протекали процессы, характерные для высокотемпературной ползучести.

Вообще различные способы поверхностного упрочнения увеличивают долговечность деталей, что подтверждает факт развития усталостного повреждения с поверхности. Об этом свидетельствуют и эксперименты, в которых в процессе усталости снимали поврежденный слой, в результате чего долговечность образцов становилась неопределенно большой. При электронно-микроскопическом исследовании дислокационной структуры в процессе усталости стали 1Х18Н9Т и алюминия был обнаружен своеобразный градиент плотности дислокаций с максимумом вблизи поверхности образца [72].

С несколько иных позиций, чем в [146], образование частиц износа в виде тонких чешуек рассматривается в работе [127]. Авторы считают, что подобные частицы образуются с высокополированных поверхностей, формирующихся в результате взаимного перемещения контактирующих материалов. Такие полированные поверхности были обнаружены при электронно-микроскопическом исследовании поверхностей трения. Верхний, полированный слой отличен от нижележащего металла и очень похож на слой, впервые описанный в 1903 г. Дж. Т. Бейльби. Слой Бейльби имеет тот же состав, что и основной металл, но упорядочение металлических кристаллов в нем отсутствует. Полированный поверхно-

К сожалению, непосредственно наблюдать зарождение пор в условиях нейтронного облучения материалов невозможно. В имитационных экспериментах, например при облучении в высоковольтном электронном микроскопе, можно следить за развитием пор с момента их проявления. Однако и в этом случае нельзя достоверно отделить зарождение пор от роста, поскольку к моменту фиксации (15—20 А) уже происходил некоторый рост пор. Работ по фиксации и идентификации пор меньшего размера при электронно-микроскопическом исследовании объектов очень мало [50]. Изменение структуры повреждения (каскады, пары Френкеля) приводит к тому, что зарождение пор в условиях электронного облучения начинается и прекращается при более низкой дозе, чем в условиях нейтронного облучения. В имитационных экспериментах не имитируются также продукты ядерных превращений и сопутствующие радиационному распуханию при нейтронном облучении длительные диффузионные процессы. Следовательно, наши знания о процессах зарождения и роста пор должны быть основаны на совокупности результатов имитационных и реакторных экспериментов. i

Зарождению как дислокационных петель, так и пор в облучаемых материалах предшествует инкубационный период. При электронно-микроскопическом исследовании радиационного распухания поры фиксируются не в момент их зарождения, а по достижении некоторого размера. Доза, при которой появляются фиксируемые поры, называется порогом порообразования (Ф(0). Ввиду зависимости минимального размера и концентрации пор, которые могут быть зафиксированы и идентифицированы, от

Электронный микроскоп позволяет подробно изучать тонкую структуру (субструктуру) металла. Одно из наиболее важных достижений электронной микроскопии — возможность прямого наблюдения дефектов кристаллической структуры. На рис. 3, в показана микроструктура, полученная в электронном микроскопе.

Растровый микроскоп позволяет изучать непосредственно поверхность металла, однако разрешающая способность его (25— 30 им) меньше, чем просвечивающего электронного микроскопа.

МИКРОСТРУКТУРА (от микро... и лат. structu-га — строение) металла — строение металлов и сплавов, видимое при помощи микроскопа. Световой микроскоп позволяет различать кристаллиты размером до 0,2 мкм, электронный — размером 0,5—1 нм (5—10 А). Характер М. (размеры, форма и взаимное расположение кристаллов) оказывает исключительно большое влияние на св-ва металлов и сплавов.

В сравнении с просвечивающим электронным микроскопом использование растровых приборов дает ряд преимуществ. Во-первых, отпадает нужда в кропотливом и трудоемком изготовлении реплик и фольг, во-вторых, наиболее полно и достоверно фиксируется рельеф поверхности, в-третьих, исследованию доступна значительно большая площадь образца и, наконец, растровый микроскоп позволяет проводить изучения в непрерывном и широком интервале увеличений — от 20 и до 100 000 крат. К недостаткам растрового микроскопа можно отнести более низкую разрешающую способность в сравнении с разрешением, которое возможно на просвечивающем приборе.

Как уже отмечалось, микроскоп позволяет наблюдать микроструктуру образца в светлом поле, при прямом и косом освещении. В светлом поле при прямом освещении нить лампы источника света / проектируется коллектором 2 и осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой апертурной диафрагмы 4. Диафрагма 5 коллектора 2 проектируется осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой полевой диафрагмы 6. Апертурная диафрагма 4 проектируется осветительной линзой 7 в плоскость выходного зрачка объективов 8 или 9. Полевая диафрагма проектируется осветительной линзой 7 в бесконечность. Так как объективы 8 и 9 рассчитаны на длину тубуса «бесконечность», то изображение полевой диафрагмы проектируется объективами в плоскость предмета.

Электронный микроскоп позволяет наблюдать дислокации не только в состоянии покоя, в статике, но и при пластической деформации — в динамике. Кристалл не сдвигается и не отрывается по всему сечению, а деформируется постепенно за счет небольших смещений атомов в области дислокации, напоминающих движение гусеницы. При этом лишь у ограниченного количества атомов нарушаются свя-

Микроскоп позволяет производить измерения кулачков, лекал и шаблонов, резьбонарезного инструмента, резьбовых калибров, фасонных фрез и резцов и др.

Краткое содержание. Гидродинамический микроскоп позволяет наблюдать движение мельчайших частиц в потоке жидкости, пересекающих интенсивный пучок света, а это в свою очередь дает возможность измерять среднюю скорость жидкости, максимальные величины трех составляющих турбулентной скорости и их максимальное угловое отклонение от среднего направления потока жидкости. Следовательно, этот микроскоп может быть использован для изучения турбулентного потока, особенно вблизи твердой стенки. В статье приведены результаты некоторых исследований, проведенных по этой методике и касающихся главным образом вопросов пограничного слоя. Они включали в себя: 1) исследование развитого турбулентного потока в гладком и шероховатом квадратных каналах и в гладкой круглой трубе; 2) переход от ламинарного потока к турбулентному в пограничном слое длинного удо-бообтекаемого тела вращения и 3) статическое давление в развитом турбулентном потоке.

Растровый микроскоп позволяет изучать непосредственно поверхность металла, однако он имеет меньшую разрешающую способность (25—30 нм), чем просвечивающий электронный микросноп.

мало. Растровый микроскоп позволяет оценить характер скалывания,

та внутреннего окисления — хорошо заметно. Создающий гораздо более сильное увеличение электронный микроскоп позволяет увидеть микроструктуру фронта (рис. 144, б, в).