Дифракции рентгеновских

Стальная диафрагма, установленная на газопроводе, имеет в центре малое отверстие, через которое проходит учитываемый газ. До диафрагмы давление газа будет больше, чем после нее. Это давление по. импульсным трубкам передается самопишущему механизму дифманометра-расходомера ДП-430 или ДП-410. Чем больше газа проходит через диафрагму, тем больше перепад давления (разность давлений до диафрагмы и после нее). По этому перепаду давления определяется расход газа.

При необходимости поддерживать большую степень точности дозирования или допускать больший диапазон колебаний Q в систему управления следует включить нормирующий преобразователь (освоение преобразователя начато в 1965 г. на заводе Энергоприбор) для дифманометров с дифференциально-трансформаторными датчиками (завода «Манометр»), который спрямляет характеристику дифманометра-расходомера с точностью ±1,5% в пределах 20—100% измеряемого расхода и 3—5% в пределах 0—20%. Таким образом, можно получить высокую точность подачи при изменении расхода обрабатываемой воды от величины, близкой к нулю, до 100%.

Практически количество вещества GT или Gm в расходомерах переменного перепада определяют планиметрированием диаграммы дифманометра-расходомера или, при наличии счетчика-интегратора, по разности показаний последнего в конце (GT2) и начале (GT]) заданного промежутка времени:

Примечание. Числитель —AQ схемы рис. 3-4, знаменатель — дифманометра-расходомера (рис. 3-4, узлы I и II), проградуирован-ного в единицах расхода тепла.

R и Rt , встроенных во вторичные приборы дифманометра-расходомера //, манометра /// и термометра IV, показана на рис. 3-9. Работа схемы понятна из описа-86

Примечание. Числитель — Дф схемы рис. 3-4, знаменатель—дифманометра-расходомера, проградуированного в единицах расхода тепла.

Некоторым недостатком данного способа измерения расхода является наличие отдельных вторичных приборов— дифманометра-расходомера и расходомера с учетом действительных параметров, что увеличивает эксплуатационные расходы на обслуживание расходомера. С другой стороны, это позволяет контролировать работу отдельных узлов расходомера.

В [Л. :59] приведена схема паромера, использующего один датчик температуры (термометр сопротивления) и один датчик давления (.манометр с вторичным прибором и ферродинаадическим преобразователем) для одновременного ввода значения плотности пара в два дифманометра-расходомера. Это достигается включением на обмотку смещения выходного ферродинамического преобразователя одного из дифманометров делителя с термометром сопротивления. Указанная схема паромера может применяться, например, для измерения расхода пара, идущего из части высокого давления турбин в пром-перегреватели котлов.

с' автоматическим вводом действительных значений параметров нецелесообразно. Наоборот, их применение вызвало бы увеличение погрешности измерения расхода тепла или вещества по сравнению с измерением с помощью обычного дифманометра-расходомера, который в данном случае и должен применяться.

Здесь 6jv подсчитывается по (6-5) для вычислительного прибора, а й'лг подсчитывается также по (6-5) для дифманометра-расходомера с учетом методических погрешностей А, и А,- от неучета действительных значений параметров.

1 Для изучения атомно-кристаллического строения применяют рентгснострук-турный анализ. Он основан на дифракции рентгеновских лучей с очень малой длиной волны (0,02—0,2 им) рядами атомов в кристаллическом юле. Для этой цели, кроме рентгеновских лучей, используют электроны и нейтроны, которые также дают дифракционные картины при взаимодействии с ионами (атомами) кристалла.

Чаще всего примитивные векторы элементарных трансляций а, Ь, с не ортогональны. Математический анализ явлений, связанных с кристаллическим состоянием, и в частности дифракции рентгеновских лучей и электронов в кристаллических решетках, сильно упрощается с помощью введенного Дж. В. Гиббсом понятия об обратной решетке. Векторы элементарных трансляций обратной решетки а*, Ь*, с* выражаются через примитивные векторы элементарных трансляций прямой решетки посредством следующих уравнений (рис. 2.41, 2.42):

метод исследования атомного строения в-ва, основанный на дифракции рентгеновских лучей. По дифракц. картине устанавливают распределение электронной плотности в-ва, а по ней - род атомов и их расположение. Р.а. позволяет определять тип и характерные размеры кристаллич. решётки металлов, сплавов и минералов, а также распределение в них внутр. напряжений; изучать дефекты кристаллич. решётки; исследовать строение волокнистых материалов, аморфных и жидких тел; осуществлять качеств, и количеств, фазовый анализ гетерогенных систем, т.е. определять содержание в них разл. кристаллич. фаз, и т.д. Р.а. используют в физике, химии, биологии и технике (напр., для изучения и контроля процессов механич. и термич. обработки металлов и сплавов). См. также Нейтронография и Электронография. РЕОЛОГИЯ (от греч. rheos - течение, поток и ...логия) - наука, изучающая процессы, связанные с необратимыми остаточными деформациями и течением разл. вязких и пластич. материалов (ньютоновских жидкостей, дисперсных систем и др.), а также явления релаксации напряжений, упругого последствия и т.д. Р. тесно связана с гидромеханикой, теориями ползучести, пластичности и текучести. С проблемами Р. приходится встречаться при разработке разл. технол. процессов, в расчётах конструкций (при выборе материалов), сооружений (при определении св-в грунтов, выборе строит, материалов) и т.д.

кристалла, приведенные на рис. 9, а и б, являются условными, поскольку они не учитывают перекрытия внешних электронных оболочек атомов. Модель ячейки, поясняющая положение атомов в пространстве, выполненная в виде соприкасающихся упругих шаров, приведена на рис. 9, в, Расположение атомов в пространстве определяется с помощью дифракции рентгеновских лучей. В двухмерном пространстве размещение атомов может быть выявлено также с помощью ионного проектора.

РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ — метод исследования атомного строения вещества путём эксперимент, изучения дифракции рентгеновских лучей в этом веществе. Р. а. основан на том, что кристаллы представляют собой естеств. дифракционные решётки для рентгеновских лучей. Р. а. позволяет определять тип и характерные размеры кристаллич. решётки металлов, сплавов и минералов, а также распределение в них внутр. напряжений; изучать дефекты кристаллич. решётки; иссле.-довать строение волокнистых материалов, аморфных и жидких тел; осуществлять качеств, и количеств, фазовый анализ гетерогенных систем, т, е. определять содержание в них различных кристаллич. фаз, и т. д. Р. а. используют в физике, химии, биологии и технике (напр., для изучения и контроля процессов механич. и термич. обработки металлов и сплавов).

Величина остаточных напряжений ограничена релаксацией скольжения в матрице. Методом дифракции рентгеновских лучек

Радиационно-индуцированные изменения в органических молекулах связаны с разрывом ковалентных связей. В простых органических соединениях радиационные эффекты невелики, но в полимерах они выражены более резко. Радиационно-индуцированные изменения в каучуках и пластиках отражаются на их внешнем виде, химическом и физическом состояниях и механических свойствах. В качестве внешних изменений можно рассматривать временные или постоянные изменения цвета, а также образование пузырей и вздутий. К химическим изменениям относятся образование двойных связей, выделение хлористого водорода, сшивание, окислительная деструкция, полимеризация, деполимеризация и газовыделение. Физические изменения — это изменения вязкости, растворимости, электропроводности, спектров ЭПР свободных радикалов, флуоресценции и кристалличности. Об изменениях кристалличности судят по измерениям плотности, теплоты плавления, по дифракции рентгеновских лучей и другим свойствам. Из механических свойств изменяются предел прочности на растяжение, модуль упругости, твердость, удлинение, гибкость и т. д.

ракции рентгеновских лучей, с упоминавшимися выше электрическими параметрами неясна. Для получения сведений о пороговых явлениях было проведено сравнение данных различных экспериментов, в которых эффекты рассматривали с точки зрения физических характеристик. Например, в работе [79] сообщается, что титанат бария облучали интегральным потоком быстрых нейтронов вплоть до 1018 нейтрон/см2, и при этом никаких изменений в параметрах кристаллической решетки не наблюдали. Однако с помощью дифракции рентгеновских лучей было обнаружено, что с увеличением интегрального потока до 1,4-1020 нейтрон/см2 тетрагональная фаза титаната бария переходит в кубическую фазу, подобно тому как это происходит под действием излучения в сегнетовой соли. Ранее были опубликованы результаты, относящиеся к влиянию излучения на пьезоэлектрические кристаллы. Из этих результатов следует, что резонансные частоты изменялись менее чем на 0,1% при интегральном потоке быстрых нейтронов 3,6-101в нейтрон /см2.

В 1912 году М. Лауэ открыл явление дифракции рентгеновских лучей. 'Появилась возможность экспериментально наблюдать расположение атомов в твердом теле и структуру кристаллов. Было доказано, что рентгеновские лучи представляют собой такие же колебания, как обычный свет, но с гораздо более короткой длиной волны. Длина волны рентгеновских лучей имеет тот же порядок, что и межатомные расстояния в кристаллах, и правильное расположение атомов,,в периодической решетке обусловливает появление дифракционных максимумов под определенными, резко выраженными углами. ;

За прошедшее после опытов М. Лауэ время определена структура нескольких тысяч кристаллических веществ благодаря усовершенствованиям, которые" внесли английские ученые отец и сын У. и Л. Брэгги в метод дифракции рентгеновских лучей. Еще будучи студентом Кембриджского университета, Л. Брэгг развил теорию дифракции рентгеновских лучей, выведя так называемое уравнение Брэгга. Его отец У. Брэгг сконструировал рентгеновский спектрометр.

Лит.: Бетехтин А. Г., Минералогия, М., 1950; Чеймберс Г. П. С., Промышленное использование глинистого минерала сепио-лита, в сб.: Вопросы минералогии глин, пер. с англ., М., 1962, с. 269—91; Прейзингер А., Рентгеновское исследование структуры се-пиолита, там же, с. 178—86; Б р и н д л и Г. Б., Данные по дифракции рентгеновских лучей и электронов для сепиолита, там же, с. 187—95; Кульбицкий Д., Высокотемпературные фазы сепиолита, аттапульгита и сапонита, там же, с. 196—211; Грим Р. В., Минералогия глин, пер. с англ., М., 1956; Grim R. Е., Applied clay mineralogy, N. Y. [а. о.], 1962; Robertson R. H. S., Sepiolite: a versatile raw material, «Chem. Ind.», 1957, 16, №46, p. 1492—95. В. И. Финько.